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| 分析天平 |
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来源：
发布时间：
2013-12-09
点击次数 ： |
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仪器名称：分析天平
英文名称：Analytical Balance
规格型号：XS105DU
仪器编号：20095670
生产生厂商：美国 Mettler Toledo (CH)
购置价格：21900元
购置日期：2009-11-11
仪器的技术指标：
最大称量范围：41 g/120 g；
可读性：0.01 mg/0.1 mg；
线性：0.2 mg；
灵敏度（温度取样泵漂移）：1.5×10-6/0C •Rnt；
外部砝码校准：用户砝码；
内部砝码：FACT全自动校准技术；
接口：RS232C；
去皮范围：0-120 mg；
防风罩可用高度：235 mm；
稳定时间：1.5s；
最小称量(符合USP法规的典型值）：30 mg；
最小称量：（typical,U=1%，sd=2）：2 mg；
灵敏度偏差：8x10^-6•Rnt；
灵敏度精密度：8x10^-6•Rnt；
灵敏度稳定性：2x10^-6/a•Rnt；
最大称量值重复性（sd）：0.1 mg；
应用范围：
性能稳定，操作方便，广泛适用于工矿企业，农业，军工，大专院校，科研单位等各领域对物品的质量和数量做精确测量。 |
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